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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	两用膜厚仪 MPOR	德国菲希尔MPOR两用膜厚仪MPOR涂层测厚仪为德国生产涂层测厚仪，MPOR涂层测厚仪集合了磁性测厚仪（P-MP0D）和涡流测厚仪（I-MP0D）两种仪器的功能，是D-MP0D型仪器的改进型产品。可用于测量铁基及非铁基体上涂层的厚度。
	X射线荧光镀层膜厚仪 FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237	德国菲希尔公司的X射线荧光镀层膜厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237是一款较为的x射线镀层测厚仪，测量所有金属镀层的厚度以及多镀层或者合金成分分析，也可以进行电解溶液含量成份分析，带有国家环保局豁免证书，无放射源设计，**环保。X射线荧光镀层膜厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237主要测量和分析微小结构的印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层。
	菲希尔X射线测厚仪 X-RAY XUL	菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，它结构紧凑，小巧耐用。它们十分适用于无损测量镀层厚度和成分分析。菲希尔X射线测厚仪又名菲希尔膜厚仪\|X射线膜厚仪\|荧光膜厚仪，X-RAY XUL系列分为固定平台的XUL和手动平台XUL-xym
	x射线荧光膜厚仪 X-RAY XDL 210	x射线荧光膜厚仪\|x射线荧光测厚仪\|x-ray膜厚仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类似，它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析，同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。
	x射线膜厚仪 X-RAY XULM X-RAY XULM? XYm	x射线膜厚仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XULM以及XULM® XYm是应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，它结构紧凑，小巧耐用。它们十分适用于无损测量细小零部件上的镀层厚度和成分分析。x射线膜厚仪又称x-ray荧光分析仪或者x-ray膜厚仪
	德国Surfix膜厚仪 PHYNIXSurfix-Pro-S	德国Surfix膜厚仪Pro-S专业级膜厚仪强大数据功能.分500组存1万测值,可换8种碳化钨超耐磨测头测铁基和有色金属基上镀层和涂层,分辨率0.1μm,带软件.探头另购,根据所选探头:精度可达±0.7μm+1%读数,或范围可达10mm
	库仑镀层测厚仪 GALVANOTEST	德国EPK公司库仑镀层测厚仪GALVANOTEST可测实际应用的所有镀层,利用库仑电量分析原理，测量镀层、多层镀层,符合标准DIN EN ISO 2177GALVANOTEST 可以测量可以测量70种以上镀层/基体组合可以测量平面、曲面上的镀层可以测量小零件、导线、线状零件预置10种金属的测量参数：Cr铬、Ni镍、Cu铜、黄铜、Zn锌、Ag银、Sn 锡、Pb铅、Cd镉、Au金
	电解膜厚仪 CT-3	日本CT-3电解膜厚仪特点： 1、各种镀层(多层、合金)的精密测量；2、除平板形外，还可以通过提供的图表测量圆形、棒形（细线）等各种形状3、可高精度测量其它方式不易测量的三层以上的镀层；
	电解式膜厚仪 CT-1	日本电解式膜厚仪测试范围0.006～300μm标准附件:1.电解液(100ml)5瓶,2.清洗瓶1个,废液瓶1个,3.测量台,4.垫圈A、B、C,5.电解槽A、B,6.标准板(Ni/Fe)1块、清洗液(100ml)1瓶、烧瓶、烧杯、滴管、搅拌棒、保险丝、棉棒、说明书。
	日本CT-2电解式镀层测厚仪日本CT-2	日本CT-2电解式镀层测厚仪测量范围0.006～300μm 特别说明：日本CT-2电解式镀层测厚仪量大分解能0.001μm
	智能电脑型库仑测厚仪 ZD-B	ZD-B智能电脑型库仑测厚仪是国内家获得省级计量局检定合格的智能库仑测厚仪，D-B智能电脑型库仑测厚于1987年初通过了部级鉴定。
	湿膜轮测厚仪德国仪力信 (Erichsen)234型	湿膜轮测厚仪简单实用。轮规型测厚仪可在刚涂布好的湿膜上测量涂膜厚度。仪器的刻度以微米表示，提供以下厚度范围：型号测量范围读数精度 234 R/I0~25 μm 1 μm 234 R/II0~50 μm 2 μm 234 R/III 0~125 μm5 μm 234 R/IV 0~250 μm10 μm
	干膜检测仪德国BYK公司	德国BYK公司干膜检测仪用途: 在各种底材上（铁，非磁性金属，塑料，木材等）测量涂层厚度（测量范围2-2000 µm）通过显微镜可观察针孔，陷坑，裂痕，气泡，鳞片，层间附着力以及底材预处理的质量控制可用十字划格刀进行附着力的测试符合标准ASTM D 3359，DIN 53 151，以及压痕硬度测试符合标准DIN EN ISO 2815。
	漆膜检测仪 P.I.G. 455	德国 ERICHSEN公司漆膜检测仪P.I.G. 455测试原理: 455测量基于标准楔形切割程序：涂层以一个定义的角度被划破到基材，涂层的厚度（s）根据切割面的三角形投影（b）计算出来，这由一个显微镜和切割角（а）决定。依据相同的原理，多层涂层系统的每层涂层厚度也可计算出来，对于符合AS 1580 Meth 408.1标准的附着力测试，在切割操作中涂层卷起的区域宽度与投影b有关。

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